- ● LCR 측정, DCR 측정, 스윕 측정의 연속 측정과 고속 검사를 1대로 실현
● LCR 모드에서 최속 1.5 ms(1 kHz) 및 0.5 ms (100 kHz)의 고속 측정
● 기본 정확도 ± 0.08 %의 고정밀도 측정
● 압전 소자의 공진 특성 검사, 기능성 고분자 콘덴서의 C-D와 저 ESR 측정, 인덕터(코일ㆍ트랜스)의 DCR와 L-Q 측정 등에 최적
● 아날라이저 모드로 주파수 스윕 측정, 레벨 스윕 측정, 타임 인터벌 측정이 가능
기본 사양
| 항목 | 내용 |
|---|---|
| 측정 모드 | LCR (LCR 측정), 분석기 (스윕 측정), 연속 측정 |
| 측정 파라미터 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (직류 저항), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 측정 범위 | 100 mΩ ~ 100 MΩ, 12 레인지 (모든 파라미터는 Z로 규정) |
| 표시 범위 |
Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp : ± (0.000000 [단위] ~ 9.999999 G [단위]) ※ Z, Y만 절대값 표시 θ : ± (0.000 ° ~ 180.000 °) D : ± (0.000000 ~ 9.999999) Q : ± (0.00 ~ 99999.99) Δ % : ± (0.0000 % ~ 999.9999 %) |
| 기본 정확도 | Z : ± 0.08 % rdg. / θ : ± 0.05 ° |
| 측정 주파수 | 4 Hz ~ 5 MHz (설정 분해능 5자리, 단 최소 분해능 10 mHz) |
| 측정 신호 레벨 |
통상 모드 : • V 모드, CV 모드 : 5 mV ~ 5 Vrms (1 MHz까지), 10 mV ~ 1 Vrms (1.0001 MHz ~ 5 MHz) (1 mVrms 단계) • CC 모드 : 10 μA ~ 50 mArms (1 MHz까지), 10 μA ~ 10 mArms (1.0001 MHz ~ 5 MHz) (10 μArms 단계) 저 임피던스 고정밀도 모드 : • V 모드, CV 모드 : 5 mV ~ 1 Vrms (100 kHz까지) (1 mVrms 단계) • CC 모드 : 10 μA ~ 100 mArms (100 kHz까지의 100 mΩ 및 1 Ω 레인지) (10 μArms 단계) |
| 출력 임피던스 | 통상 모드 : 100 Ω / 저 임피던스 고정밀도 모드 : 10 Ω |
| 디스플레이 | 컬러 TFT 5.7 inch, 표시 ON / OFF 설정 가능 |
| 측정 시간 | 0.5 ms (100 kHz, FAST, 디스플레이 OFF, 대표값) |
| 기능 | DC 바이어스 측정, 콤퍼레이터, BIN 측정 (분류 기능), 패널 로드/세이브, 메모리 기능 |
| 인터페이스 | EXT I / O (핸들러), RS-232C, GP-IB, USB 통신, USB 메모리, LAN |
| 전원 | AC 90 ~ 264 V, 60 Hz, 150 VA max |
| 치수 · 질량 | 330W × 119H × 307D mm, 5.8 kg |
| 부속품 | 전원 코드 × 1, 사용설명서 × 1 |
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IM3570 데이터 시트
- 확장자 :
- 파일크기 :
- 2.71MB
